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QCM-D 耗散型石英晶体分析仪 X1 FCU Pro
X1系列耗散型石英晶体分析仪基于专利的QCM-D技术,可精确测量石英芯片表面质量和结构变化,提供实时的表面相互作用信息,如吸脱附过程、分子相互作用、蛋白质构象变化等。
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QCM200石英晶体微天平
QCM200 石英晶体微天平可测量物体表面或者薄膜等物质反映过程中的质量和粘性。这个系统包括一个控制器、 晶体振荡器、 水晶样品架、 三个石英晶体和 Windows / Mac 软件(QCM
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QCM 922石英微天平
仪器简介:QCM922型电化学石英晶体分析仪可分析测试液体的成分、电合成、电沉积、元素的嵌入与脱出、电聚合以及微质量测量等研究课题。 结构:QCM922型电化学石英晶体分析仪是由主机(由相关电子元件
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石英晶体微天平
电化学石英晶体分析仪可分析测试液体的成分、电合成、电沉积、元素的嵌入与脱出、电聚合以及微质量测量等研究课题。 QCM922A是QCA922的全新升级产品,可同时通过晶振
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GAMRY 耗散型石英晶体微天平QCM-I
阻抗测量和耗散QCM-I耗散型石英晶体微天平是一种高灵敏度质量传感器,可测量石英晶体谐振器和任何吸附膜的频率和耗散变化。 QCM可应用于很多方面:蛋白质,高分子薄膜,生物传感器,化学传感器,腐蚀
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AWS耗散型石英晶体微天平X1
AWS X1石英晶体微天平基于声波传感原理,可通过石英传感器频率和耗散变化来检测芯片表面质量和结构变化。适用于刚性和粘弹性薄膜,具有倍频操作模式,可给出薄膜的粘度,弹性模量,粘性模量,厚度等信息
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QCM-I 高精度耗散型石英晶体微天平
QCM-I 高精度耗散型石英晶体微天平能够测量石英晶片或所吸附薄膜的频率变化及能量耗散,进而分析反应过程中微小的质量变化,吸附层厚度变化等;能够判断膜的刚性或柔性,并且分析膜的粘弹性方面的性质;以及
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QCM-I Mini 高精度耗散型石英晶体微天平
QCM-I Mini 高精度耗散型石英晶体微天平能够测量石英晶片或所吸附薄膜的频率变化及能量耗散,进而分析反应过程中微小的质量变化,吸附层厚度变化等;能够判断膜的刚性或柔性,并且分析膜的粘弹性方面
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3T analytik 石英晶体微天平qCell μOpto
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伯英科技 耗散型石英晶体微天平分析仪-QCM-Dissipation-NT
耗散型石英晶体微天平分析仪QCM-Disspation-NT开放式设计,便于用户进行集成,各种改造创新,可实验室使用,也可便携使用 作为新一代QCM-Dissipation Next, 该款耗散型
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